Jim Williams, Staff Scientist

新しい18ビットＤＡＣ、ＬＴＣ２７５３の性能を検証するには綿密な測定手法が必要です。DCでの性能検証は高精度のDVMを使って比較的容易に行えますが、動的条件での測定は非常に困難です。とりわけ、275nsの測定分解能の制限がある状態で10Vステップの後に10μV以内へのDACのセトリングを判定するには、信頼できる測定機器と測定者に慎重さが求められます。

このビデオは、オシロスコープでＤＡＣのセトリング・データを1ppmの分解能で正確に表示する方法をLTCの「アプリケーションノート120」を基に説明しています。この手法では、オシロスコープをオーバードライブすることなく、大きな波形の振幅の両端付近で振幅の小さいデータを観察できます。分解能1ppm（0.0001%）では測定速度に関わらず、どのようなものを測定するのも難しく、とりわけ、この分解能で動的測定は困難です。1ppmでセトリング時間を高い信頼性で測定するには、アプローチと測定技法の面で注意を要します。